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定量分析硅化钨半导体加工膜组分和厚度的标准试验方法
Test Method for Quantifying Tungsten Silicide Semiconductor Process Films for Composition and Thickness
参考页数:7P.;A4
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真空镀膜用纯铝(未掺杂质)原材料标准规范
Standard Specification for Pure Aluminum (Unalloyed) Source Material for Vacuum Coating Applications
参考页数:2P.;A4
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用于电子薄膜的纯铝(非合金)材料标准规范
Standard Specification for Pure Aluminum (Unalloyed) Source Material for Electronic Thin Film Applications
参考页数:2P.;A4
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有机发光二极管显示器用有机小分子发光材料纯度测定 高效液相色谱法
参考页数:9
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有机发光二极管显示器用材料热稳定性的测试方法
参考页数:8
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有机发光二极管显示器用材料 玻璃化转变温度测试方法 差热法
参考页数:7
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电子封装用球形二氧化硅微粉球形度的检测方法 颗粒动态光电投影法
参考页数:7
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薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)用四甲基氢氧化铵显影液
参考页数:26
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