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 ICS国际标准分类  
01  GB/T 15074-2008 发布日期:2008-06-16  实施日期:2009-03-01
电子探针定量分析方法通则
General guide of quantitative analysis by EPMA
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02  GB/T 18873-2008 发布日期:2008-06-16  实施日期:2009-03-01
生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则
General guide of transmission electron microscope (TEM)-X-ray energy dispersive spectrometry (EDS) quantitative microanalysis for thin biological specimens
价格:¥0.00
03  GB/T 17507-2008 发布日期:2008-06-16  实施日期:2009-03-01
透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件
General specification of thin biological standards for X-ray EDS microanalysis in transmission electron microscope
价格:¥0.00
04  GB/T 17506-2008 发布日期:2008-06-16  实施日期:2009-03-01
船舶黑色金属腐蚀层的电子探针分析方法
The analysis method of corrosive layer on ferrous metals of ship with EPMA
价格:¥0.00
05  GB/T 17360-2008(作废) 发布日期:20090301  实施日期:2008
钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法
Quantitative analysis method of low content Si and Mn in steel with electron probe microanalysis
价格:¥0.00
06  GB/T 20726-2006(作废) 发布日期:2006  实施日期:20070801
半导体探测器X射线能谱仪通则
Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
价格:¥0.00
07  GB/T 20725-2006 发布日期:2006-12-25  实施日期:2007-08-01
波谱法定性点分析电子探针显微分析导则
Electron probe microanalysis guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
价格:¥0.00
08  GB/T 20724-2006 发布日期:2006-12-25  实施日期:2007-08-01
薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
价格:¥0.00
09  GB/T 8143-2008 发布日期:2008-12-31  实施日期:2009-03-01
紫胶产品检验方法
Test methods of lac products
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10  LY/T 1083-2008(2010) 发布日期:2008  实施日期:20080501
栲胶原料分析试验方法

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