| 标准号： |
GB/T 11685-2003 |
| 英文名称： |
Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers |
| 中标分类： |
能源核技术>>核仪器与探测器综合 |
| 发布日期： |
2003-07-07 |
| 发布单位： |
CN-GB |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2004-01-01 |
| ICS分类： |
核能综合>>核能综合 |
| 起草单位/标准公告： |
核工业标准化研究所 |
| ***： |
CF |
| ***： |
B |
| 正文语言： |
汉语 |
| 页数： |
30P.;A4 |
| 被代替标准： |
GB/T 8992-1988;GB/T 11685-1989 |
| 内容提要（CN）： |
符号;测量;光谱学;定义;半导体器件;能谱仪;X射线仪;放射源 |
| 内容提要（EN）： |
symbols;spectroscopy;;measurement;radioactive sources;definitions;definition;measuring;definitions designation;measurements;x-ray apparatus;semiconductor devices |
| 归属： |
中国 |
