| 标准号： |
NF C93-616-2013 |
| 英文名称： |
Single Crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>石英晶体、压电元件 |
| 发布日期： |
2013-03-13 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2013-03-13 |
| ICS分类： |
压电器件和介质器件>>压电器件和介质器件 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Tranches monocristallines pour applications utilisant des dispositifs ? ondes acoustiques de surface (OAS). Spécifications et méthodes de mesure |
| 页数： |
45P;A4 |
| 代替标准： |
NF C93-616-2018 |
| 被代替标准： |
NF C93-616-2006 |
| 采用关系： |
EN 62276-2013,IDT;IEC 62276-2012,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Acoustic waves;Crystal lattices;Crystals (electronic);Definitions;Electrical engineering;Electrical properties;Electrical properties and phenomena;Electronic equipment and components;Frequency stabilization;Measurement;Measuring techniques;Methods for measuring;Piezoelectric devices;Piezoelectricity;Quartz crystals;Ratings;Single crystal;Specifications;Surface acoustic wave devices;Surface acoustic waves;Testing;Wafers |
| 归属： |
法国 |
