| 标准号： |
NF C86-810-1983 |
| 英文名称： |
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Blank detail specification : ambient-rated thyristor. |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体整流器件 |
| 发布日期： |
1983-06-01 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
1983-06-30 |
| ICS分类： |
晶体闸流管>>晶体闸流管 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Composants électroniques. Syst?me CENELEC d'assurance de la qualité - Thyristors ? température ambiante spécifiée - Spécification particuli?re cadre. |
| 页数： |
10P.;A4 |
| 被代替标准： |
NF C86-810-1981;NF C86-810/A1-1981 |
| 采用关系： |
CECC 50010-1982,IDT |
| 内容提要（CN）： |
尺寸;质量管理;热试验;详细规范;试验条件;合格试验;电性质和电现象;半导体闸流管;电气试验;电性能;鉴定试验;电子设备及元件;耐久试验;机械试验;作标记;环境试验;电子元部件;电气耐久试验 |
| 内容提要（EN）： |
Blank forms;Detail specification;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Environmental condition;Forms (paper);Harmonization;Quality assessment systems;Quality assurance systems;Semiconductor devices;Semiconductors;Surveillance (approval);Thyristors |
| 归属： |
法国 |
