| 标准号： |
NF X21-005-2006 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification. |
| 中标分类： |
仪器仪表>>放大镜与显微镜 |
| 发布日期： |
2006-04-01 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2006-04-05 |
| ICS分类： |
光学设备>>光学设备 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Analyse par microfaisceaux. Microscopie électronique ? balayage. Lignes directrices pour l'étalonnage du grandissement d'image |
| 页数： |
22P.;A4 |
| 采用关系： |
ISO 16700-2004,IDT |
| 内容提要（CN）： |
分析;分析方法;校正;定义;电子束;电子显微镜;图象制作;图像;放大;放大因子;微量分析;扫描电子显微镜;光谱学 |
| 内容提要（EN）： |
Analysis;Analysis methods;Calibration;Definition;Definitions;Electron beams;Electron microscopes;Image production;Images;Magnification;Magnification factor;Methods of analysis;Microanalysis;Scanning electron microscopes;Spectroscopy |
| 归属： |
法国 |
