| 标准号： |
NF X21-061-2008 |
| 英文名称： |
Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Determination of lateral resolution. |
| 中标分类： |
综合>>化学 |
| 发布日期： |
2008-04-01 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2008-04-05 |
| ICS分类： |
物理化学分析方法>>物理化学分析方法 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Analyse chimique des surfaces. Spectroscopie d'électrons Auger et spectroscopie de photoélectrons de rayons X. Détermination de la résolution latérale |
| 页数： |
31P.;A4 |
| 采用关系： |
ISO 18516-2006,IDT |
| 内容提要（CN）： |
螺旋电子光谱法;化学分析和试验;数据分析;定义;精整;测量;光电子的;定量分析;光谱测定法;光谱学;平尺;表面化学;表面;X射线光度法 |
| 内容提要（EN）： |
Auger electron spectroscopy;Chemical analysis and testing;Data analysis;Definition;Definitions;Finishes;Measurement;Photoelectronics;Quantitative analysis;Spectrometry;Spectroscopy;Straightedges;Surface chemistry;Surfaces;X-ray spectrometry |
| 归属： |
法国 |
