| 标准号： |
NF X21-062-2008 |
| 英文名称： |
Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials. |
| 中标分类： |
综合>>化学 |
| 发布日期： |
2008-04-01 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2008-04-05 |
| ICS分类： |
化学分析>>化学分析 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Analyse chimique des surfaces. Profilage d'épaisseur par bombardement. Optimisation ? l'aide de syst?mes mono- ou multicouches comme matériaux de référence |
| 页数： |
23P.;A4 |
| 采用关系： |
ISO 14606-2000,IDT |
| 内容提要（CN）： |
雾化;化学分析和试验;定义;深度剖面;含量测定;电子光谱法;精整;离子束;层;最优化;参考材料;X射线光度法 |
| 内容提要（EN）： |
Atomization;Chemical analysis and testing;Definition;Definitions;Depth profile;Determination of content;Electron spectroscopy;Finishes;Ion beams;Layers;Optimization;Reference materials;X-ray spectrometry |
| 归属： |
法国 |
