| 标准号： |
NF X21-064-2009 |
| 英文名称： |
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry. |
| 中标分类： |
0>>0 |
| 发布日期： |
2009-02-01 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2009-02-28 |
| ICS分类： |
物理化学分析方法>>物理化学分析方法 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Analyse chimique des surfaces. Spectrométrie de masse des ions secondaires. Répétabilité et constance de l'échelle des intensités relatives en spectrométrie statique de masse des ions secondaires |
| 页数： |
19P;A4 |
| 采用关系： |
ISO 23830-2008,IDT |
| 内容提要（CN）： |
校准;化学分析和试验;稳定性;含量测定;评估;精整;质谱学;数学计算;测量;测量技术;精密度;重复性;次级离子质谱测定法;分光计;光谱测定法 |
| 内容提要（EN）： |
Calibration;Chemical analysis and testing;Constancy;Determination of content;Evaluation;Finishes;Mass spectrometry;Mathematical calculations;Measurement;Measuring techniques;Precision;Repeatability;Secondary-ion mass spectrometry;Spectrometers;Spectrometry |
| 归属： |
法国 |
