| 标准号： |
DIN EN 61967-1-2017 |
| 英文名称： |
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and definitions (IEC 47A/1022/CD:2017) |
| 中标分类： |
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| 发布日期： |
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| 发布单位： |
DE-DIN |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
电子学 (词汇)>>电子学 (词汇) |
| 起草单位/标准公告： |
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE;German Commissi |
| 正文语言： |
多语(德、英) |
| 原文名称： |
Circuits intégrés - Mesure des émissions électromagnétiques - Partie 1: Conditions générales et définitions (IEC 47A/1022/CD:2017) |
| 页数： |
49P.;A4 |
| 附注： |
History:DIN EN 61967-1-2017-11 |
| 采用关系： |
IEC 47A/1022/CD-2017,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Definitions;Electrical engineering;Electromagnetic compatibility;Electromagnetic properties;Electromagnetic radiation;Electronic engineering;Electronic equipment and components;EMC;Emission;Frequency ranges;General section;Information;Integrated circuits;Interfering emissions;Measurement;Measuring techniques;Microelectronics;Printed-circuit boards;Quality;Testing;Testing conditions;Testing devices;Checking equipment |
| 内容提要（QT）： |
Généralités;Renseignement;Circuit microélectronique;CEM;Mesurage;Composant électronique;Microélectronique;Bande de fréquence;Microstructure électronique;Section générale;Electronique moléculaire;Communication;Carte de circuit imprimé;Propriété électromagnétique;Métrologie;Compatibilité électromagnétique;Carte de circuit imprimé double face;Dispositif électronique;Conditions d'essai;Microstructure;Spectre électromagnétique;Emission;Onde électromagnétique;Electronique;Carte de circuit imprimé simple face;Metrologie;Qualité;Déclaration;Mesurage, essai et instruments;Circuit intégré de commutation;Carte imprimée;Dispositif d'essai;Définition;Technique de mesure;Electrotechnique;Matériel et composants électroniques;Carte de circuit imprimé ayant des trous métallisés;Circuit intégré;Chips de silicon;Méthode de mesure;Information;Rayonnement électromagnétique;Essai;Equipement de essai;Crachat |
| 归属： |
德国 |
