| 标准号： |
IEC 60747-2-2016 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体整流器件 |
| 发布日期： |
2016-04 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
二极管>>二极管 |
| 正文语言： |
双语(英,法) |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 2: Dispositifs discrets - Diodes de redressement |
| 页数： |
91P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60747-2 (2016-04);IEC 47E/531/FDIS (2015-12);IEC 47E/477/CDV (2014-09);IEC 47E/461/CD (2013-07);IEC 60747-2 (2000-03);IEC 47E/136/FDIS (1999-10);IEC 47E/81/CDV (1997-01);IEC 60747-2 AMD 2 (1993-10);IEC 60747-2 AMD 1 (1992-02);IEC/DIS 47(CO)1282 (1991-10);IEC/DIS 47(CO)1258 (1991-06);IEC 60747-2 (1983);IEC 60147-0F (1982);IEC 60147-1J (1981);IEC 60147-1H (1981);IEC 60147-2M (1980);IEC 60147-0E (1979);IEC 60147-2K (1978);IEC 60147-4 (1976);IEC 60147-1G (1975);IEC 60147-2F (1974);IEC 60147-0D (1974);IEC 60147-3A (1973);IEC 60147-1F (1973);IEC 60147-0C (1973);IEC 60147-1 (1972);IEC 60147-3 (1970);IEC 60147-2C (1970);IEC 60147-2B (1970);IEC 60147-0B (1969);IEC 60147-0 (1966);IEC 60147-2 (1963) |
| 被代替标准： |
IEC 47E/531/FDIS-2015;IEC 60747-2-2000 |
| 引用标准： |
IEC 60050-521-2002;IEC 60747-1-2006;IEC 60747-1 AMD 1-2010;IEC 60749-23-2004;IEC 60749-34-2010 |
| 内容提要（EN）： |
Acceptance inspection;Components;Continuity tests;Definitions;Diodes;Discrete devices;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Fatigue tests;Inspection;Integrated circuits;Limits (mathematics);Marking;Measurement;Measuring techniques;Qualification tests;Ratings;Rectifier diodes;Reliability;Routine check tests;Semiconductor devices;Semiconductors;Specification (approval);Symbols;Testing |
| 内容提要（QT）： |
Abnahmeprüfung;Anforderung;Bauelement;Begriffe;Dauerprüfung;Definition;Diode;Einzelbauelement;elektrische Messung;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Gleichrichterdiode;Grenzwert;Halbleiter;Halbleiterbauelement;integrierte Schaltung;Kenndaten;Kennwert;Kennzeichnung;Kurzzeichen;Messung;Messverfahren;Prüfung;Prüfverfahren;Qualit？tsprüfung;Stückprüfung;Symbol;Typprüfung;Zuverl？ssigkeit |
| 归属： |
国际 |
