标准号: |
IEC 60759-1983 |
英文名称: |
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers |
中标分类: |
能源核技术>>通用核仪器 |
发布日期: |
1983 |
发布单位: |
IX-IEC |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
ICS分类: |
辐射测量>>辐射测量 |
起草单位/标准公告: |
IEC/TC 45 |
正文语言: |
英语 |
原文名称: |
Methodes D'Essais Normalises Des Spectrometres D'Energie X A Semicteur (Edition 1.0; Includes Amendment 1: 1991) |
页数: |
97P.;A4 |
附注: |
History:IEC 60759 (1983) |
采用关系: |
DIN IEC 75(CO)9-1981,IDT;GB/T 11685-2003,NEQ;CEI 45-35-1987,IDT;SS-IEC 759-1986,MOD |
增补: |
IEC 60759 AMD 1-1991 |
内容提要(CN): |
电气工程;测量;试验;半导体;放射性;定义;电子工程;探测器;X射线;核技术 |
内容提要(EN): |
Climate;Definitions;Detectors (circuits);Electrical engineering;Electronic engineering;Environmental conditions;Measurement;Nuclear technology;Radioactivity;Semiconductors;Storage;Testing;X-rays |
内容提要(QT): |
Analysator;Begriffe;Definition;Detektor;Elektronik;Elektrotechnik;Halbleiter;Kerntechnik;Klasse;Klassifizierung;Klima;Lagerung;Messung;Prüfverfahren;Radioaktivit?t;R?ntgenstrahlung;Spektrometer;Transport;Umweltbedingung;Umwelteinflussgr??e |
归属: |
国际 |