| 标准号： |
IEC 62526-2007 |
| 英文名称： |
Standard for extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for semiconductor design environments |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>程序语言 |
| 发布日期： |
2007-11 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
工业自动化系统>>工业自动化系统 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/TC 93 |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
126P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 62526 (2007-11);IEC 93/248/FDIS (2007-06) |
| 被代替标准： |
IEC 93/248/FDIS-2007 |
| 采用关系： |
BS IEC 62526-2007,IDT;IEEE 1450.1-2005,IDT |
| 内容提要（CN）： |
建筑(IT);自动化;计算机协助工程;加算机软件协助工程;数据处理;定义;数字的;信息交流;信息技术;集成电路;接口;测绘;产品设计;自我检验;半导体设备;半导体;试验类型;测试程序;试验;试验环境;试验设备 |
| 内容提要（EN）： |
Architecture (IT);Automation;CAE;CASE;Computer aided engineering;Computer aided software engineering;Data handling;Data processing;Definition;Definitions;Digital;Information interchange;Information technology;Integrated circuits;Interfaces;Mapping;Product design;Self-checking;Semiconductor devices;Semiconductors;Test pattern;Test procedures;Testing;Testing conditions;Testing devices |
| 内容提要（QT）： |
Abbildung (DV);Architektur (IT);Automatisierung;Begriffe;CAE;CASE;Datenbehandlung;Datenverarbeitung;Definition;digital;Halbleiter;Halbleiterbauelement;Informationsaustausch;Informationstechnik;integrierte Schaltung;Interface;Produktentwicklung;Prüfbedingung;Prüfeinrichtung;Prüfung;Prüfverfahren;Selbstprüfung;Testverfahren;Testzeichen |
| 归属： |
国际 |
