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中文名称:集成电路.脉冲抗干扰度测量.第3部分:非同步瞬时注射法
标准号:IEC 62215-3-2013
标准号: IEC 62215-3-2013
英文名称: Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method
中标分类 电子元器件与信息技术>>微集成电路综合
发布日期: 2013-07
发布单位: IX-IEC
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ICS分类 集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学
起草单位/标准公告: IEC/SC 47A
正文语言 英语
原文名称: Circuits intégrés – Mesure de l'immunité aux impulsions – Partie 3: Méthode d'injection de transitoires non synchrones (Edition 1.0)
页数: 66P;A4
附注: History:IEC 62215-3 (2013-07);IEC 47A/881/CDV (2012-03);IEC 47A/864/CD (2011-04);IEC 47A/839/CD (2010-02)
被代替标准: IEC 47A/881/CDV-2012
引用标准: IEC 60050-55-1970;IEC 60050-101-1998;IEC 60050-102-2007;IEC 60050-103-2009;IEC 60050-111-1996;IEC 60050-111 AMD 1-2005;IEC 60050-112-2010;IEC 60050-113-2011;IEC 60050-113 CORR 1-2011;IEC 60050-121-1998;IEC 60050-121 AMD 1-2002;IEC 60050-121 AMD 2-2008;IEC 60050-131-2002;IEC 60050-131 AMD 1-2008;IEC 60050-141-2004;IEC 60050-151-2001;IEC 60050-161-1990;IEC 60050-161 AMD 1-1997;IEC 60050-161 AMD 2-1998;IEC 60050-191-1990;IEC 60050-191 AMD 1-1999;IEC 60050-191 AMD 2-2002;IEC 60050-195-1998;IEC 60050-195 AMD 1-2001;IEC 60050-212-2010;IEC 60050-221-1990;IEC 60050-221 AMD 1-1993;IEC 60050-221 AMD 2-1999;IEC 60050-221 AMD 3-2007;IEC 60050-300-2001;IEC 60050-321-1986;IEC 60050-351-2006;IEC 60050-371-1984;IEC 60050-371 AMD 1-1997;IEC 60050-393-2003;IEC 60050-394-2007;IEC 60050-411-1996;IEC 60050-411 AMD 1-2007;IEC 60050-415-1999;IEC 60050-421-1990;IEC 60050-426-2008;IEC 60050-431-1980;IEC 60050-436-1990;IEC 60050-441-1984;IEC 60050-441 AMD 1-2000;IEC 60050-442-1998;IEC 60050-444-2002;IEC 60050-445-2010;IEC 60050-447-2010;IEC 60050-448-1995;IEC 60050-461-2008;IEC 60050-466-1990;IEC 60050-471-2007;IEC 60050-482-2004;IEC 60050-521-2002;IEC 60050-531-1974;IEC 60050-541-1990;IEC 60050-551-1998;IEC 60050-551-20-2001;IEC 60050-561-1991;IEC 60050-561 AMD 1-1995;IEC 60050-561 AMD 2-1997;IEC 60050-581-2008;IEC 60050-601-1985;IEC 60050-601 AMD 1-1998;IEC 60050-602-1983;IEC 60050-603-1986;IEC 60050-603 AMD 1-1998;IEC 60050-604-1987;IEC 60050-604 CORR 1-1987;IEC 60050-604 AMD 1-1998;IEC 60050-605-1983;IEC 60050-617-2009;IEC 60050-617 AMD 1-2011;IEC 60050-651-1999;IEC 60050-691-1973;IEC 60050-701-1988;IEC 60050-702-1992;IEC 60050-702 Erratum 1-1992;IEC 60050-702 Erratum 2-1994;IEC 60050-704-1993;IEC 60050-705-1995;IEC 60050-712-1992;IEC 60050-713-1998;IEC 60050-714-1992;IEC 60050-715-1996;IEC 60050-716-1-1995;IEC 60050-721-1991;IEC 60050-722-1992;IEC 60050-723-1997;IEC 60050-723 AMD 1-1999;IEC 60050-725-1994;IEC 60050-726-1982;IEC 60050-731-1991;IEC 60050-731 CORR 1-1992;IEC 60050-732-2010;IEC 60050-801-1994;IEC 60050-802-2011;IEC 60050-806-1996;IEC 60050-806 AMD 1-2001;IEC 60050-807-1998;IEC 60050-808-2002;IEC 60050-811-1991;IEC 60050-815-2000;IEC 60050-826-2004;IEC 60050-841-2004;IEC 60050-845-1987;IEC 60050-851-2008;IEC 60050-881-1983;IEC 60050-891-1998;IEC 61000-4-4-2012;IEC 61000-4-5-2005;IEC 62132-4-2006;ISO 7637-2-2011
采用关系: EN 62215-3-2013,IDT
内容提要(CN): 异步的;定义;电气工程;给食器;影响量;信息;制造商提供的信息;集成电路;干扰抑制;维修;测量;测量条件;测量技术;动量;印制电路板;温度;试验
内容提要(EN): Asynchronous;Definitions;Electrical engineering;Feeder;Influence quantities;Information;Information supplied by the manufacturer;Integrated circuits;Interference rejections;Maintenance;Measurement;Measurement conditions;Measuring techniques;Momentum;Printed-circuit boards;Temperature;Testing
内容提要(QT): asynchron;Begriffe;Definition;Einspeisung;Elektrotechnik;Herstellerinformation;Impuls;Information;integrierte Schaltung;Leiterplatte;Messbedingung;Messung;Messverfahren;Prüfung;Prüfverfahren;St?rfestigkeit;St?rgr??e;Temperatur;Wartung
归属: 国际
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