| 标准号： |
ANSI/EIA-970-2013 |
| 英文名称： |
Test procedure for high frequency characterization of low inductance multilayer ceramic chip capacitors |
| 中标分类： |
0>>0 |
| 发布日期： |
2013-01-01 |
| 发布单位： |
US-ANSI |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
陶瓷电容器和云母电容器>>陶瓷电容器和云母电容器 |
| 起草单位/标准公告： |
ANSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 采用关系： |
EIA-970-2013,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Capacitors;Ceramic capacitors;Ceramics;Chip capacitors;Chips;Components;Control charts;Design;Detail specification;Dielectric materials;Dimensions;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Fixed capacitors;Harmonization;Limit deviations;Marking;Measuring techniques;Multilayer capacitors;Properties;Quality assessment systems;Quality assurance systems;Quality testing;Ratings;Sectional specification;Specification (approval);Testing |
| 归属： |
美国 |
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