| 标准号： |
BS IEC 60747-1-2006+A1-2010 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - General |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体发光器件 |
| 发布日期： |
2006-06-30 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2006-06-30 |
| ICS分类： |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
46P;A4 |
| 被代替标准： |
04/30122195 DC-2004;BS 6493-1.1-1984;BS IEC 60747-1-2006 |
| 采用关系： |
IEC 60747-1-2006,IDT;IEC 60747-1 Corrigendum 1-2008,NEQ |
| 内容提要（CN）： |
色码;元部件;连接;定义;分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;图形符号;操作;检验;集成电路;布置;寿命;极限(数学);作标记;标记;测量;测量技术;额定值;基准方法;可靠性;半导体器件;半导体;标志;规范(验收);符号;测试;警告符号 |
| 内容提要（EN）： |
Colour codes;Components;Connections;Definitions;Discrete devices;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Graphic symbols;Handling;Inspection;Integrated circuits;Layout;Life (durability);Limits (mathematics);Marking;Marks;Measurement;Measuring techniques;Ratings;Reference methods;Reliability;Semiconductor devices;Semiconductors;Signs;Specification (approval);Symbols;Testing;Warning symbols |
| 归属： |
英国 |
