| 标准号： |
SJ/T 11210-1999 |
| 英文名称： |
Measurement of quartz crystal unit parameters.Part4:Method for the measurement of the load resonance frequency fL,load resonance resistance RL and the calculation of other derived values of quartz crystal units,up to 30MHz |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>石英晶体、压电元件 |
| 发布日期： |
1999-08-26 |
| 发布单位： |
CN-SJ |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
1999-12-01 |
| 确认日期： |
2010 |
| ICS分类： |
压电器件和介质器件>>压电器件和介质器件 |
| 起草单位/标准公告： |
国营北京晨星无线电器材厂 |
| 页数： |
16P.;A4 |
| 附注： |
根据《中华人民共和国工业和信息化部公告 2011年第25号》，继续有效。 |
| 内容提要（CN）： |
石英晶体;电子元件;参数测量;负载谐振频率;负载谐振电阻 |
| 归属： |
中国 |
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