| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：半导体器件. 基于扫描的半导体器件老化水平估计 |
| 标准号:BS PD IEC/TR 63133-2017 |
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| 标准号： |
BS PD IEC/TR 63133-2017 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices. Scan based ageing level estimation for semiconductor devices |
| 中标分类： |
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| 发布日期： |
2018-01-29 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2018-01-29 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
20P.;A4 |
| 引用标准： |
IEEE 1149.1-2013 |
| 采用关系： |
IEC/TR 63133,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Electronic equipment and components;Storage;Performance;Estimation;Semiconductor devices;Power;Output capacity;Bearings;Efficiency |
| 归属： |
英国 |
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