| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：半导体器件. 柔性和可伸展半导体器件. 柔性衬底上导电薄膜弯曲试验方法 |
| 标准号:BS IEC 62951-1-2017 |
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| 标准号： |
BS IEC 62951-1-2017 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices. Bending test method for conductive thin films on flexible substrates |
| 中标分类： |
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| 发布日期： |
2018-05-04 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2018-05-04 |
| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
18P.;A4 |
| 引用标准： |
IEC 62047-22-2014;IEC 62047-2-2006 |
| 采用关系： |
IEC 62951-1-2017,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Integrated circuit manufacture;Electromechanical devices;Electronic equipment and components;Semiconductor devices |
| 归属： |
英国 |
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