| 标准号： |
ISO/TR 22335-2007 |
| 英文名称： |
Surface chemical analysis - Depth profiling - Measurement of sputtering rate: mesh-replica method using a mechanical stylus profilometer |
| 中标分类： |
综合>>化学 |
| 发布日期： |
2007-07-01 |
| 发布单位： |
IX-ISO |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
化学分析>>化学分析 |
| 起草单位/标准公告： |
ISO/TC 201 |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
24P.;A4 |
| 被代替标准： |
ISO/DIS 22335-2004 |
| 采用关系： |
PD ISO/TR 22335-2007,IDT;GB/T 32999-2016,IDT;FD X21-063-2008,IDT;NPR-ISO/TR 22335-2007 en-2007,IDT |
| 内容提要（CN）： |
螺旋电子光谱法;化学分析和测试;定义;深度测量;深度剖面;精整;定量分析;光谱学;溅射;表面化学;表面;X射线光度法 |
| 内容提要（EN）： |
Auger electron spectroscopy;Chemical analysis and testing;Definition;Definitions;Depth measurement;Depth profile;Finishes;Quantitative analysis;Spectroscopy;Sputtering;Surface chemistry;Surfaces;X-ray spectrometry |
| 归属： |
国际 |
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