| 标准号： |
ISO 6342-2003 |
| 英文名称： |
Micrographics - Aperture cards - Method of measuring thickness of buildup area |
| 中标分类： |
综合>>图书馆、档案、文献与情报工作 |
| 发布日期： |
2003-07 |
| 发布单位： |
IX-ISO |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
文献成象技术>>文献成象技术 |
| 起草单位/标准公告： |
ISO/TC 171 |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
3P.;A4 |
| 被代替标准： |
ISO 6342-1993;ISO/FDIS 6342-2003 |
| 引用标准： |
ISO 534-1988;ISO 6196-1-1993;ISO 6196-4-1998 |
| 采用关系： |
GB/T 23285-2009,IDT;PN-ISO 6342-2005,IDT;NEN-ISO 6342-2003 en-2003,IDT |
| 内容提要（CN）： |
开窗卡;厚度测量;穿孔卡片;试验;缩微胶卷;缩微照相 |
| 内容提要（EN）： |
Aperture cards;Microfilm;Micrographics;Punched cards;Testing;Tests;Thickness measurement |
| 归属： |
国际 |
