标准号: |
ISO 16700-2016 |
英文名称: |
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification |
中标分类: |
仪器仪表>>放大镜与显微镜 |
发布日期: |
2016-08 |
发布单位: |
IX-ISO |
标准状态: |
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ICS分类: |
光学设备>>光学设备 |
起草单位/标准公告: |
ISO/TC 202 Analysenverfahren mit Feinstrahltechnik;ISO/TC 202 Microbeam analysis;ISO/TC 202 Analyse par microfaisceaux |
正文语言: |
英语 |
页数: |
18P.;A4 |
被代替标准: |
ISO 16700-2004;ISO/DIS 16700-2015 |
引用标准: |
ISO GUIDE 30-2015;ISO GUIDE 34-2009;ISO GUIDE 35-2006;ISO/IEC GUIDE 98-3-2008;ISO 5725-1-1994;ISO/IEC 17025-2005 |
采用关系: |
BS ISO 16700-2016,IDT;NEN-ISO 16700-2016 en-2016,IDT |
内容提要(EN): |
Analysis;Analysis methods;Calibration;Definitions;Electron beams;Electron microscopes;Image production;Images;Magnification;Magnification factor;Methods of analysis;Microanalysis;Scanning electron microscopes;Spectroscopy |
归属: |
国际 |