| 标准分类 Standards |
 |
|
|
|
|
| 中文名称：采用使用钻孔装置的破坏方法测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法 |
| 标准号:ASTM D5796-2010(2015) |
|
![]() |
 |
| 标准号： |
ASTM D5796-2010(2015) |
| 英文名称： |
Standard Test Method for Measurement of Dry Film Thickness of Thin-Film Coil-Coated Systems by Destructive Means Using a Boring Device |
| 中标分类： |
|
| 发布日期： |
2010 |
| 发布单位： |
US-ASTM |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 确认日期： |
2015 |
| ICS分类： |
表面特征>>表面特征 |
| 起草单位/标准公告： |
D01.53 |
| ***： |
Test |
| 页数： |
5P.;A4 |
| 内容提要（EN）： |
borer bit; boring; crater; destructive; dry film; measure stage; micrometer; optical measurement; thickness; thin films; video camera; |
| 归属： |
美国 |
|
|
|
|
