| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：测量单晶半导体电阻率和霍尔系数并测定霍尔迁移率的标准试验方法 |
| 标准号:ASTM F76-2008(2016)e1 |
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| 标准号： |
ASTM F76-2008(2016)e1 |
| 英文名称： |
Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors |
| 中标分类： |
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| 发布日期： |
2008 |
| 发布单位： |
US-ASTM |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 确认日期： |
2016 |
| ICS分类： |
半导体材料>>半导体材料 |
| 起草单位/标准公告： |
F01.15 |
| ***： |
Test |
| 页数： |
14P.;A4 |
| 附注： |
2008年修改e1 |
| 内容提要（EN）： |
gallium arsenide; Hall coefficient; Hall data; Hall mobility; Hall resistivity; semiconductor; silicon; single crystal; van der Pauw; |
| 归属： |
美国 |
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