| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：半导体器件重离子辐照引起的单粒子现象(SEP)测量的标准指南 |
| 标准号:ASTM F1192-2011(2018) |
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| 标准号： |
ASTM F1192-2011(2018) |
| 英文名称： |
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices |
| 中标分类： |
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| 发布日期： |
2011 |
| 发布单位： |
US-ASTM |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 确认日期： |
2018 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
F01.11 |
| ***： |
Guid |
| 页数： |
11P.;A4 |
| 内容提要（EN）： |
SEB; SEE; SEFI; SEGR; SEL; SEP; SEP cross section; SEU; single event; single event effect; single event phenomena; single event upset; space environment; |
| 归属： |
美国 |
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