| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：半导体器件电离辐射(总剂量)效应试验标准指南 |
| 标准号:ASTM F1892-2012(2018) |
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| 标准号： |
ASTM F1892-2012(2018) |
| 英文名称： |
Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices |
| 中标分类： |
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| 发布日期： |
2012 |
| 发布单位： |
US-ASTM |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 确认日期： |
2018 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
F01.11 |
| ***： |
Guid |
| 页数： |
41P.;A4 |
| 内容提要（EN）： |
ASIC (application specific integrated circuit); bipolar; cobalt 60 testing; ELDRS (enhanced low dose rate sensitivity); gamma ray tests; ionizing radiation testing; MOS; radiation hardness; semiconductor devices; time dependent effects; total dose testing; X-ray testing; |
| 归属： |
美国 |
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