| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号样品面积的标准操作规程 |
| 标准号:ASTM E1217-2011 |
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| 标准号： |
ASTM E1217-2011 |
| 英文名称： |
Standard Practice for Determination of the Specimen Area Contributing to the Detected Signal in Auger Electron Spectrometers and Some X-Ray Photoelectron Spectrometers |
| 中标分类： |
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| 发布日期： |
2011 |
| 发布单位： |
US-ASTM |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
物理化学分析方法>>物理化学分析方法 |
| 起草单位/标准公告： |
E42.03 |
| ***： |
Prac |
| 页数： |
9P.;A4 |
| 内容提要（CN）： |
孔;俄歇电子能谱学(AES);刀口实验;锐边;试样面积;分光仪;表面分析;X射线光电子能谱(XPS);吸收电流;吸收-光谱化学仪器;计算机程序;电流测量;挠曲;探测器;弹性峰分析;行扫描;示波器;程序控制供电系统;光栅扫描;扫描;信号检测/放大/测量;试件面积;光谱测定法;表面分析-光谱化学分析;地形学;电压;波形 |
| 内容提要（EN）： |
aperture; auger electron spectroscopy (AES); knife-edge experiments; sharp edge; specimen area; spectrometer; surface analysis; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Absorbed current; Absorption--spectrochemical instrumentation; Auger electron spectroscopy (AES); Computer programs; Current measurement; Deflection; Detectors; Elastic peak analysis; Line scan; Oscilloscope; Programmable power supplies; Raster scan; Scanning; Signal detection/amplification/measurement; Specimen area; Spectrometry; Surface analysis--spectrochemical analysis; Topography; Voltage; Waveforms; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) |
| 归属： |
美国 |
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