标准分类 Standards |
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中文名称:扫描隧道显微镜学和原子力显微镜学中扫描器和与触点相关物品的标准指南 |
标准号:ASTM E2382-2004(2012) |
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标准号: |
ASTM E2382-2004(2012) |
英文名称: |
Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy |
中标分类: |
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发布日期: |
2004 |
发布单位: |
US-ASTM |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
确认日期: |
2012 |
ICS分类: |
表面特征>>表面特征 |
起草单位/标准公告: |
E42.14 |
***: |
Guid |
页数: |
18P.;A4 |
内容提要(EN): |
Abbe offset error; creep; dilation; hysteresis; nonlinearity; probe-sample mixing; AFM; STM; tip shape; proximal probe; geometric mixing; image reconstruction |
归属: |
美国 |
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