| 标准号： |
GB/T 1553-2009 |
| 英文名称： |
Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay |
| 中标分类： |
冶金>>半金属与半导体材料综合 |
| 发布日期： |
2009-10-30 |
| 发布单位： |
CN-GB |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2010-06-01 |
| ICS分类： |
半导体材料>>半导体材料 |
| 起草单位/标准公告： |
峨嵋半导体材料厂 |
| 正文语言： |
汉语 |
| 页数： |
15P.;A4 |
| 被代替标准： |
GB/T 1553-1997 |
| 引用标准： |
GB/T 1550-1997;GB/T 1551-2009;GB/T 14264-2009 |
| 内容提要（CN）： |
锗;硅;半导体材料;晶体;衰减;寿命;半导体 |
| 内容提要（EN）： |
GERMANIUM;SILICON;SILICONE;SEMICONDUCTOR MATERIALS;CRYSTALS;ATTENUATION;ATTENUATIONS;ATTENUATORS;DECAYING;FADING;LIFE(DURABILITY);LIFE (DURABILITY);LIFE : DURABILITY;LIFE DURABILITY;SEMICONDUCTORS |
| 归属： |
中国 |
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