| 标准号： |
GB/T 1558-2009 |
| 英文名称： |
Test method for substitutional atomic carbon concent of silicon by infrared absorption |
| 中标分类： |
冶金>>半金属与半导体材料综合 |
| 发布日期： |
2009-10-30 |
| 发布单位： |
CN-GB |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2010-06-01 |
| ICS分类： |
半导体材料>>半导体材料 |
| 起草单位/标准公告： |
峨嵋半导体材料厂;信息产业部专用材料质量监督检验中心;中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
| 正文语言： |
汉语 |
| 页数： |
8P.;A4 |
| 被代替标准： |
GB/T 1558-1997 |
| 引用标准： |
GB/T 6618-2009;GB/T 14264-2009 |
| 采用关系： |
SEMI MF 1391-0704,MOD |
| 内容提要（CN）： |
半导体;晶体;硅;化学分析和试验;含量测定;红外线辐射;原子吸收分光光度测定法;碳 |
| 内容提要（EN）： |
SEMICONDUCTORS;CRYSTALS;SILICON;SILICONE;CHEMICAL ANALYSIS AND TESTING;CONTENT DETERMINATION;CONTENT DETERMINATIONS;DETERMINATION OF CONTENT;INFRARED RADIATION;ATOMIC ABSORPTION SPECTROPHOTOMETRY;ATOMIC ABSORPTION SPECTROSCOPY;CARBONS;CARBON |
| 归属： |
中国 |
