| 标准号： |
NF X21-008-2012 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive ray spectrometers for use in electron probe microanalysis |
| 中标分类： |
仪器仪表>>光学测试仪器 |
| 发布日期： |
2012-12-01 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2012-12-28 |
| ICS分类： |
有关化学分析方法的其他标准>>有关化学分析方法的其他标准 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Analyse par microfaisceaux. Param?tres de performance instrumentale sélectionnés pour la spécification et le contr?le des spectrom?tres X ? sélection d?énergie utilisés en microanalyse par sonde ? électrons |
| 页数： |
18P;A4 |
| 被代替标准： |
NF X21-008-2006 |
| 采用关系： |
ISO 15632-2012,IDT |
| 内容提要（CN）： |
分析方法;定义;电子束;测量仪器;微量分析;半导体探测器;半导体器件;半导体二极管;X射线分光计;X射线光度法 |
| 内容提要（EN）： |
Analysis methods;Definitions;Electron beams;Measuring instruments;Microanalysis;Semiconductor detectors;Semiconductor devices;Semiconductor diodes;X-ray spectrometer;X-ray spectrometry |
| 归属： |
法国 |
