| 标准号： |
ISO 15632-2012 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis |
| 中标分类： |
仪器仪表>>电化学、热化学、光学式分析仪器 |
| 发布日期： |
2012-08 |
| 发布单位： |
IX-ISO |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
有关化学分析方法的其他标准>>有关化学分析方法的其他标准 |
| 起草单位/标准公告： |
ISO/TC 202 |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
11P;A4 |
| 被代替标准： |
ISO 15632-2002;ISO/FDIS 15632-2012 |
| 引用标准： |
ISO 23833-2006 |
| 采用关系： |
DIN ISO 15632-2015,IDT;DIN ISO 15632-2015,IDT;BS ISO 15632-2012,IDT;NF X21-008-2012,IDT;SFS-ISO 15632-en-2013,IDT |
| 内容提要（CN）： |
分析方法;定义(术语);电子束;测量仪器;微量分析;半导体探测器;半导体器件;半导体二极管;X射线分光计;X射线光度法 |
| 内容提要（EN）： |
Analysis methods;Definitions;Electron beams;Measuring instruments;Microanalysis;Semiconductor detectors;Semiconductor devices;Semiconductor diodes;X-ray spectrometer;X-ray spectrometry |
| 归属： |
国际 |
