| 标准号： |
NF X21-010-2009 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary. |
| 中标分类： |
仪器仪表>>放大镜与显微镜 |
| 发布日期： |
2009-06-01 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2009-06-13 |
| ICS分类： |
成像技术 (词汇)>>成像技术 (词汇) |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Analyse par microfaisceaux. Microscopie électronique ? balayage. Vocabulaire |
| 页数： |
28P;A4 |
| 采用关系： |
ISO 22493-2008,IDT |
| 内容提要（CN）： |
分析;砝码;分析方法;定义;耐久性;电子束;分析方法;微量分析;显微术;;术语;词汇 |
| 内容提要（EN）： |
Analysis;Analysis methods;Definitions;Electron beams;Methods of analysis;Microanalysis;Microscopy;Scanning electron microscopes;Terminology;Vocabulary |
| 归属： |
法国 |
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