| 标准号： |
ISO 15932-2013 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Vocabulary |
| 中标分类： |
仪器仪表>>放大镜与显微镜 |
| 发布日期： |
2013-12 |
| 发布单位： |
IX-ISO |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
成像技术 (词汇)>>成像技术 (词汇) |
| 起草单位/标准公告： |
ISO/TC 202 |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
28P.;A4 |
| 被代替标准： |
ISO/FDIS 15932-2013 |
| 采用关系： |
BS ISO 15932-2013,IDT;NF X21-016-2014,IDT |
| 内容提要（CN）： |
分析;分析方法;定义;电子显微镜;微量分析;微束分析;显微分析;显微术;物理的;描电子显微镜;技术术语;术语学;词汇表 |
| 内容提要（EN）： |
Analysis;Analysis methods;Definitions;Electron microscopy;Microanalysis;Microbeam analysis;Microscopic analysis;Microscopy;Physical;Scanning electron microscopes;Technical term;Terminology;Vocabulary |
| 归属： |
国际 |
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