| 标准号： |
DIN ISO 15632-2015 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis (ISO 15632:2012) |
| 中标分类： |
仪器仪表>>电化学、热化学、光学式分析仪器 |
| 发布日期： |
2015-11 |
| 发布单位： |
DE-DIN |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
有关化学分析方法的其他标准>>有关化学分析方法的其他标准 |
| 正文语言： |
德语 |
| 原文名称： |
Mikrobereichsanalyse - Ausgewahlte instrumentelle Performanceparameter zur Spezifizierung und Uberprufung engergiedispersiver Rontgenspektrometer fur die Anwendung in der Elektronenstrahl-Mikrobereichsanalyse (ISO 15632:2012) |
| 页数： |
17P.;A4 |
| 附注： |
History:DIN ISO 15632 (2015-11);DIN ISO 15632 (2015-05) |
| 被代替标准： |
DIN ISO 15632-2015-05 |
| 引用标准： |
DIN EN ISO/IEC 17025-2005;DIN ISO 18115-1;DIN ISO 22309-2015;ANSI/IEEE 759-1984;ASTM E 1508-2012;IEC 60759-1983;ISO/IEC 17025-2005;ISO 18115-1-2013;ISO 22309-2011;ISO 23833-2013 |
| 采用关系： |
ISO 15632-2012,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Analysis methods;Definitions;Electron beams;Measuring instruments;Microanalysis;Microbeam analysis;Semiconductor detectors;Semiconductor devices;Semiconductor diodes;X-ray spectrometer;X-ray spectrometry |
| 内容提要（QT）： |
Analysemethode;Begriffe;Definition;Elektronenstrahl;Halbleiterbauelement;Halbleiterdetektor;Halbleiterdiode;Messgerat;Mikroanalyse;Mikrobereichsanalyse;Rontgenspektrometer;Rontgenspektrometrie |
| 归属： |
德国 |
