| 标准号： |
IEC 61163-2-1998 |
| 英文名称： |
Reliability stress screening - Part 2: Electronic components |
| 中标分类： |
0>>0 |
| 发布日期： |
1998-11 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
质量综合>>质量综合 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/TC 56 |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Deverminage Sous Contraintes - Partie 2: Composants Electroniques (Edition 1.0) |
| 页数： |
69P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 61163-2 (1998-11);IEC 56/636/FDIS (1998-06);IEC 56/513/CDV (1996-03) |
| 被代替标准： |
IEC 56/636/FDIS-1998;IEC 60300-3-7-1999 |
| 引用标准： |
IEC 56/558/CDV-1996;IEC 60050-191-1990;IEC 60300-1-1993;IEC 60300-2-1995;IEC 61163-1-1995;IEC 61709-1996 |
| 采用关系： |
BS IEC 61163-2-1999,IDT;PN-IEC 61163-2-2004,IDT;UNE 200004-2-2003,IDT |
| 内容提要（CN）： |
质量控制;定义;定义;试验;电子设备及元件;应力;可靠性试验;电子仪器;可靠度 |
| 内容提要（EN）： |
Definitions;Electronic equipment and components;Electronic instruments;Quality control;Reliability;Reliability testing;Stress;Testing |
| 内容提要（QT）： |
Beanspruchung;Begriffe;Definition;Elektronikger？t;elektronisches Bauelement;Prüfung;Qualit？tskontrolle;Zuverl？ssigkeit;Zuverl？ssigkeitsprüfung |
| 归属： |
国际 |
