| 标准号： |
IEC 60747-5-3 AMD 1-2002 |
| 英文名称： |
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices; Measuring methods; Amendment 1 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体光敏器件 |
| 发布日期： |
2002-03 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
光电子学、激光设备>>光电子学、激光设备 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47E |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-3: Optoelektronische Bauelemente; Messverfahren; ？nderung 1 |
| 页数： |
25P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60747-5-3 AMD 1 (2002-03);IEC 47E/210/FDIS (2001-12);IEC 47E/165/CDV (2000-06);IEC 60747-5 AMD 2 (1995-04);IEC 60747-5 AMD 1 (1994-11);IEC 47C/31/DIS (1994-10);IEC/DIS 47C(CO)16 (1992-12);IEC/DIS 47C(CO)12 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)11 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)10 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)9 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)8 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)7 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)6 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)5 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)4 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)3 (1992-05);IEC 60747-5 (1992-02);IEC/DIS 47C(CO)2 (1992-02);IEC/DIS 47C(CO)1 (1992-02);IEC/DIS 47(CO)1292 (1991-02);IEC/DIS 47(CO)1284 (1991-02);IEC 60747-5 (1984);IEC 60147-1K (1981) |
| 代替标准： |
IEC 60747-5-5-2007;IEC 60747-5-5 Edition 1.1-2013;IEC 60747-5-7-2016(部分代替);IEC 60747-5-6-2016(部分代替) |
| 被代替标准： |
IEC 47E/210/FDIS-2001;IEC 60747-5-1992;IEC 60747-5 AMD 1-1994;IEC 60747-5 AMD 2-1995 |
| 引用标准： |
IEC 60747-5-3-1997 |
| 采用关系： |
DIN EN 60747-5-3-2003,IDT;EN 60747-5-3/A1-2002,IDT;NF C96-005-3/A1-2002,IDT;C96-005-3/A1PR,IDT;OEVE/OENORM EN 60747-5-3+A1-2003,IDT;PN-EN 60747-5-3-2008,IDT;PN-EN 60747-5-3/A1-2003,IDT |
| 内容提要（CN）： |
测量技术;集成电路;显示装置;半导体器件;电子设备及元件;光电子器件;分立器件 |
| 内容提要（EN）： |
Bandwidths;Dark current;Diodes;Discrete devices;Display devices;Electrical properties and phenomena;Electronic equipment and components;Insulating resistance;Insulation test;Integrated circuits;Luminous intensity;Measuring techniques;Optoelectronic devices;Photocouplers;Photodiodes;Radiant intensity;Semiconductor devices;Testing |
| 内容提要（QT）： |
Bandbreite;Diode;Dunkelstrom;Einzelbauelement;elektrische Eigenschaft;elektronisches Bauelement;Halbleiterbauelement;integrierter Schaltkreis;Isolationsprüfung;Isolationswiderstand;Lichtst？rke;Messverfahren;optoelektronische Baueinheit;Optokoppler;Photodiode;Prüfverfahren;Sichtanzeige;Strahlst？rke |
| 归属： |
国际 |
