| 标准号： |
IEC 60747-5-5 Edition 1.1-2013 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2013-05-01 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47E |
| 正文语言： |
双语(英,法) |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs discrets - Partie 5-5: Dispositifs optoélectroniques - Photocoupleurs |
| 页数： |
106P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60747-5-5 Edition 1.1 (2013-05) |
| 被代替标准： |
IEC 60747-5-1-1997;IEC 60747-5-1 AMD 1-2001;IEC 60747-5-1 AMD 2-2002;IEC 60747-5-1 Edition 1.2-2002;IEC 60747-5-2-1997;IEC 60747-5-2 AMD 1-2002;IEC 60747-5-3-1997;IEC 60747-5-3 AMD 1-2002;IEC 60747-5-2 Edition 1.1-2009;IEC 60747-5-3 Edition 1.1-2009 |
| 引用标准： |
IEC 60068-1-1988;IEC 60068-2-1-2007;IEC 60068-2-2-2007;IEC 60068-2-78-2001;IEC 60068-2-6;IEC 60068-2-14-1984;IEC 60068-2-17-1994;IEC 60068-2-27 |
| 内容提要（CN）： |
频带宽度;分立器件;显示装置;电气工程;电性能;电性质和电现象;电气安全;电子设备及元件;绝缘电阻;绝缘测试;绝缘电压;集成电路;发光强度;测量技术;光电子器件;光耦合器;防电击;额定值;安全性;安全装置;安全性要求;半导体器件;试验 |
| 内容提要（EN）： |
Bandwidths;Discrete devices;Display devices;Electrical engineering;Electrical properties;Electrical properties and phenomena;Electrical safety;Electronic equipment and components;Insulating resistance;Insulation test;Insulation voltage;Integrated circuits;Luminous intensity;Measuring techniques;Optoelectronic devices;Photocouplers;Protection against electric shocks;Ratings;Safety;Safety devices;Safety requirements;Semiconductor devices;Testing |
| 内容提要（QT）： |
Bandbreite;Einzelbauelement;elektrische Eigenschaft;elektronisches Bauelement;Elektroschutz;Elektrotechnik;Halbleiterbauelement;integrierter Schaltkreis;Isolationsprüfung;Isolationsspannung;Isolationswiderstand;Kenndaten;Lichtst？rke;Messverfahren;optoelektronische Baueinheit;Optokoppler;Prüfung;Prüfverfahren;Sicherheit;Sicherheitsanforderung;Sicherheitseinrichtung;Sichtanzeige |
| 归属： |
国际 |
