| 标准号： |
IEC 60747-5-1 AMD 2-2002 |
| 英文名称： |
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-1: Optoelectronic devices; General; Amendment 2 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体光敏器件 |
| 发布日期： |
2002-03 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| ICS分类： |
光电子学、激光设备>>光电子学、激光设备 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47E |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-1: Optoelektronische Bauelemente; Allgemeines; ？nderung 2 |
| 页数： |
15P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60747-5-1 AMD 2 (2002-03);IEC 47E/208/FDIS (2001-12);IEC 47E/163/CDV (2000-06) |
| 代替标准： |
IEC 60747-5-5-2007;IEC 60747-5-5 Edition 1.1-2013;IEC 60747-5-7-2016(部分代替);IEC 60747-5-6-2016(部分代替) |
| 被代替标准： |
IEC 47E/208/FDIS-2001 |
| 引用标准： |
IEC 60747-5-1-1997 |
| 采用关系： |
DIN EN 60747-5-1-2003,IDT;EN 60747-5-1/A2-2002,IDT;NF C96-005-1/A2-2002,IDT;C96-005-1/A2PR,IDT;OEVE/OENORM EN 60747-5-1+A1+A2-2003,IDT;PN-EN 60747-5-1-2004,IDT |
| 内容提要（CN）： |
符号;光电子器件;电子设备及元件;半导体器件;显示装置;分立器件;集成电路 |
| 内容提要（EN）： |
Acceptance specification;Definitions;Diodes;Discrete devices;Display devices;Electronic equipment and components;Integrated circuits;Limits (mathematics);Measuring techniques;Optoelectronic devices;Ratings;Reliability;Semiconductor devices;Symbols;Terminology |
| 内容提要（QT）： |
Abnahmebedingung;Begriffe;Definition;Diode;Einzelbauelement;elektronisches Bauelement;Grenzwert;Halbleiterbauelement;integrierter Schaltkreis;Kennwert;Messverfahren;optoelektronische Baueinheit;Sichtanzeige;Symbol;Terminologie;Zuverl？ssigkeit |
| 归属： |
国际 |
