| 标准号： |
IEC 60747-5-3 Edition 1.1-2009 |
| 英文名称： |
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微集成电路综合 |
| 发布日期： |
2009-11 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47C |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-3: Optoelektronische Bauelemente - Messverfahren |
| 页数： |
90P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60747-5-3 Edition 1.1 (2009-11) |
| 代替标准： |
IEC 60747-5-5 Edition 1.1-2013;IEC 60747-5-7-2016(部分代替);IEC 60747-5-6-2016(部分代替) |
| 引用标准： |
IEC 60068-1-1988;IEC 60270-1981 |
| 内容提要（CN）： |
频带宽度;暗电流;二极管;分立器件;显示装置;电性质和电现象;电子设备及元件;绝缘电阻;绝缘测试;集成电路;发光强度;测量;测量技术;光电子器件;光耦合器;光电二极管;辐射强度;半导体器件;试验 |
| 内容提要（EN）： |
Bandwidths;Dark current;Diodes;Discrete devices;Display devices;Electrical properties and phenomena;Electronic equipment and components;Insulating resistance;Insulation test;Integrated circuits;Luminous intensity;Measurement;Measuring techniques;Optoelectronic devices;Photocouplers;Photodiodes;Radiant intensity;Semiconductor devices;Testing |
| 内容提要（QT）： |
Bandbreite;Diode;Dunkelstrom;Einzelbauelement;elektrische Eigenschaft;elektronisches Bauelement;Halbleiterbauelement;integrierter Schaltkreis;Isolationsprüfung;Isolationswiderstand;Lichtst？rke;Messung;Messverfahren;optoelektronische Baueinheit;Optokoppler;Photodiode;Prüfung;Prüfverfahren;Sichtanzeige;Strahlst？rke |
| 归属： |
国际 |
