| 标准号： |
IEC 62429-2007 |
| 英文名称： |
Reliability growth - Stress testing for early failures in unique complex systems |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>可靠性和可维护性 |
| 发布日期： |
2007-11 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
质量综合>>质量综合 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/TC 56 |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Croissance de fiabilité – Essais de contraintes pour révéler les défaillances précoces d’un système complexe et unique (Edition 1.0) |
| 页数： |
71P;A4 |
| 附注： |
History:IEC 62429 (2007-11);IEC 56/1232/FDIS (2007-08);IEC 56/1100/CDV (2006-02) |
| 被代替标准： |
IEC 56/1232/FDIS-2007 |
| 引用标准： |
IEC 60300-3-5;IEC 60605-2;IEC 60050-191-1990;IEC 61163-1-2006;IEC 61163-2;IEC 61164;IEC 61710 |
| 采用关系： |
DIN EN 62429-2008,IDT;BS EN 62429-2008,IDT;EN 62429-2008,IDT;NF C20-350-2008,IDT;C20-350PR,IDT;OEVE/OENORM EN 62429-2008,IDT;PN-EN 62429-2008,IDT |
| 内容提要（CN）： |
验收;缺陷;定义;电器部件;电气工程;电子工程;电子设备和部件;错误分析;失败;失败率;危害;计划;程序;可靠性;可靠性增长;软件;测试;测试条件 |
| 内容提要（EN）： |
Acceptance inspection;Defects;Definitions;Electrical components;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Error analysis;Failure;Failure rates;Hardware;Planning;Programmes;Reliability;Reliability growth;Software;Testing;Testing conditions |
| 内容提要（QT）： |
Abnahmeprüfung;Ausfall;Ausfallrate;Begriffe;Definition;elektrisches Bauteil;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Fehler;Fehleranalyse;Hardware;Planung;Programm;Prüfbedingung;Prüfung;Prüfverfahren;Software;Zuverl？ssigkeit;Zuverl？ssigkeitswachstum |
| 归属： |
国际 |
