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中文名称:超导性.临界电流测量.涂层银或银合金的Bi-2212和Bi-2223氧化超导体的直流临界电流
标准号:BS EN 61788-3-2006
标准号: BS EN 61788-3-2006
英文名称: Superconductivity - Part 3: Critical current measurement - DC critical current of Ag- and/or Ag alloy-sheathed Bi-2212 and Bi-2223 oxide superconductors
中标分类 冶金>>半金属与半导体材料综合
发布日期: 2006-09-29
发布单位: GB-BSI
标准状态 请与本站工作人员进行确认
实施日期: 2006-09-29
ICS分类 电学、磁学、电和磁的测量>>电学、磁学、电和磁的测量
起草单位/标准公告: BSI
正文语言 英语
页数: 26P.;A4
被代替标准: BS EN 61788-3-2001
引用标准: IEC 60050-815-2000
采用关系: EN 61788-3-2006,IDT;IEC 61788-3-2006,IDT
内容提要(CN): 成束导线;装箱;临界数据;电流测量;定义;直流电流;电气工程;长丝;测量;护套的;护壳;银;银涂层;超导性
内容提要(EN): Bundled conductors;Casing;Criticality data;Current measurement;Definition;Definitions;Direct current;Electrical engineering;Filament (textile fibre);Measurement;Sheated;Sheathings;Silver;Silver coating;Superconductivity;Superconductors
归属: 英国
下载:“半金属与半导体材料综合”相关标准(下载...)

ASTM E1438-2011 使用SIMS测量溅镀深度剖面接口宽度的标准指南  
ASTM E1438-2011 使用SIMS测量溅镀深度剖面接口宽度的标准指南  
ISO/TTA 3-2001 多晶材料 中子衍射法测定剩余应力  
GB/T 16596-2019 确定晶片坐标系规范  
GB/T 16595-2019 晶片通用网格规范  
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YS/T 985-2014 硅抛光回收片  
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BS EN 61788-10-2006 超导性.临界温度测量.用电阻法测量复合超导体的临界温度  

 

下载“电学、磁学、电和磁的测量”相关标准(下载...)

BS EN IEC 61788-23-2018  
JIS H7311-2018 超导性.交流电损耗测量.多芯复合超导体磁滞损耗的磁强计测量法  
BS EN 61788-7-2006 超导性.第3部分:电子特性测量.微波频率下超导体表面电阻  
BS EN 61788-3-2006 超导性.临界电流测量.涂层银或银合金的Bi-2212和Bi-2223氧化超导体的直流临界电流  
IEC 61788-13-2012 超导性.第13部分:交流电损耗测量.多芯复合超导体磁滞损耗的磁强计法  
IEC 61788-8-2010 超导性.第8部分:交流电损耗测量.用拾波线圈法在液氮温度下测量暴露于横向交流磁场中循环超导导线的交流电总损耗量  
IEC 61788-2-2006 超导性.第2部分:临界电流测量.Nb<下标3>Sn复合超导体的直流临界电流  
IEC 61788-1-2006 超导性.第1部分:临界电流测量.铌-钛复合超导体的临界直流电流  
IEC 61788-7-2006 超导性.第7部分:电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻  
JIS H7308-2017 超导性.基块超导体体积比例的测量.Nb3Sn复合超导金属线的铜对非铜体积比例  

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