| 标准号： |
BS QC 750100-1986+A2-1996 |
| 英文名称： |
Harmonized system of quality assessment for electronic components - Discrete semiconductor devices - Sectional specification |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
1986-12-31 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
1986-12-31 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
22P.;A4 |
| 被代替标准： |
BS QC 750100-1986 |
| 采用关系： |
IEC 60747-11-1985,IDT;IEC 60747-11 AMD 2-1996,IDT |
| 内容提要（CN）： |
元件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;检验;集成电路;作标记;测量;测量方法;质量;质量评定;质量评定系统;分规范;半导体器件;半导体;规范(验收);规范;试验 |
| 内容提要（EN）： |
Components;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Inspection;Integrated circuits;Marking;Measurement;Methods for measuring;Quality;Quality assessment;Quality assessment systems;Sectional specification;Semiconductor devices;Semiconductors;Specification (approval);Specifications;Testing |
| 归属： |
英国 |
