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中文名称:连接装置.电气铜导体用片式快速插接件.安全性要求
标准号:BS EN 61210-2010
标准号: BS EN 61210-2010
英文名称: Connecting devices. Flat quick-connect terminations for electrical copper conductors. Safety requirements
中标分类 电子元器件与信息技术>>连接器
发布日期: 2011-02-28
发布单位: GB-BSI
标准状态 请与本站工作人员进行确认
实施日期: 2011-02-28
ICS分类 连接装置>>连接装置
起草单位/标准公告: BSI
正文语言 英语
页数: 38P;A4
被代替标准: BS EN 61210-1995
采用关系: EN 61210-2010,IDT;IEC 61210-2010,MOD;TS EN 61210-2012,IDT
内容提要(CN): 特性;夹件;连接设备;插接件连接;铜;铜导线;定义(术语);尺寸规格;导电体;电连接器;电插头;电气元件;电气工程;电气安全性;电驱动装置;扁插头;检验规范;低电压;作标记;插头;插孔;安全性;安全性要求;插入式连接器;温度;试验
内容提要(EN): Characteristics;Clamps;Connecting devices;Connectored joints;Copper;Copper conductors;Definitions;Dimensions;Electric conductors;Electric connectors;Electric plugs;Electrical components;Electrical engineering;Electrical safety;Electrically-operated devices;Flat plugs;Inspection specification;Low voltage;Marking;Plugs;Receptacles;Safety;Safety requirements;Snap-on connections;Temperature;Testing
归属: 英国
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GB/T 5095.2507-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)  
GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分:试验25e:回波损耗  
GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延  
GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减  
GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)  
GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分:试验25a:串扰比  
GB/T 5095.2307-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分:屏蔽和滤波试验 试验23g:连接器的有效转移阻抗  
GB/T 5095.2304-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分:屏蔽和滤波试验 试验23d:时域内传输线的反射  
GB/T 5095.2303-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分:屏蔽和滤波试验 试验23c:连接器和附件的屏蔽效果 线注入法  
GB/T 11313.41-2021 射频连接器 第41部分:CQA系列快速锁紧射频连接器分规范  

 

下载“连接装置”相关标准(下载...)

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