| 标准号： |
BS ISO 17470-2014 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry |
| 中标分类： |
仪器仪表>>电子光学与其他物理光学仪器 |
| 发布日期： |
2014-01-31 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2014-01-31 |
| ICS分类： |
有关化学分析方法的其他标准>>有关化学分析方法的其他标准 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
22P;A4 |
| 被代替标准： |
BS ISO 17470-2004 |
| 引用标准： |
ISO 14594-2003 |
| 采用关系： |
ISO 17470-2014,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Electron beams;Microanalysis;Chemical analysis and testing;X-ray fluorescence spectrometry;Spectrophotometry;Spectroscopy;Instrumental methods of analysis;Dispersion (waves);Wavelengths;Electron microscopes |
| 归属： |
英国 |
|
