| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：微束分析. 扫描电子显微术. 词汇 |
| 标准号:BS ISO 22493-2014 |
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| 标准号： |
BS ISO 22493-2014 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Vocabulary |
| 中标分类： |
综合>>物理学与力学 |
| 发布日期： |
2014-04-30 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2014-04-30 |
| ICS分类： |
成像技术 (词汇)>>成像技术 (词汇) |
| 起草单位/标准公告： |
CII/9 |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
32P.;A4 |
| 被代替标准： |
BS ISO 22493-2008 |
| 引用标准： |
ISO 704;ISO 1087-1;ISO 10241;ISO 18115-1-2013;ISO 23833 |
| 采用关系： |
ISO 22493-2014,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Scanning electron microscopes;Electron microscopes;Microscopes;Electron beams;Electron optics;Optical instruments;Vocabulary;Terminology;Instrumental methods of analysis |
| 归属： |
英国 |
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