| 标准号： |
SJ/T 11471-2014 |
| 英文名称： |
Measurement methods for epitaxial wafers of light-emitting diodes |
| 中标分类： |
冶金>>化合物半导体材料 |
| 发布日期： |
2014-10-14 |
| 发布单位： |
CN-SJ |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2015-04-01 |
| 确认日期： |
2017-05-12 |
| ICS分类： |
半导体材料>>半导体材料 |
| 起草单位/标准公告： |
上海蓝光科技有限公司;山东华光光电子有限公司 |
| 正文语言： |
汉语 |
| 页数： |
12P.;A4 |
| 附注： |
根据中华人民共和国工业和信息化部公告2017年第23号,本标准继续有效。 |
| 引用标准： |
GB/T 6619;GB/T 6620;GB/T 6624-2009;GB/T 8758-2006;GB/T 8760-2006;GB/T 14140.2-1993;GB/T 1426.4-2009;GB/T 18907-2002;GB/T 20229;GB/T 20307-2006;GB/T 25915.1-2010;JB/T 7503;SJ/T 11394-2009;SJ/T 11395-2009;SJ/T 11399-2009;SJ/T 11470-2014 |
| 归属： |
中国 |
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