| 标准号： |
SJ/T 11502-2015 |
| 英文名称： |
Specification for polished monocrystalline silicon carbide wafers |
| 中标分类： |
冶金>>化合物半导体材料 |
| 发布日期： |
2015-04-30 |
| 发布单位： |
CN-SJ |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2015-10-01 |
| 确认日期： |
2017-05-12 |
| ICS分类： |
半导体材料>>半导体材料 |
| 起草单位/标准公告： |
中国电子科技集团公司第四十六研究所;北京天科合达蓝光半导体有限公司;工业和信息化部电子工业标准化研究院;河北问光晶体有限公司 |
| 正文语言： |
汉语 |
| 页数： |
17P.;A4 |
| 附注： |
根据中华人民共和国工业和信息化部公告2017年第23号,本标准继续有效。 |
| 引用标准： |
GB/T 6619;GB/T 6620;GB/T 6621;GB/T 13387;GB/T 13388;GB/T 14264;GB/T 30866;GB/T 30867;GB/T 30868;SJ/T 11499;SJ/T 11500;SJ/T 11501;SJ/T 11503;SJ/T 11504 |
| 归属： |
中国 |
