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电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
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电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法
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电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
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电真空器件用镍及镍合金化学分析方法
参考页数:11
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电真空器件用刚玉粉粒度分布的测定 密度天平法
参考页数:8
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定量分析硅化钨半导体加工膜组分和厚度的标准试验方法
Test Method for Quantifying Tungsten Silicide Semiconductor Process Films for Composition and Thickness
参考页数:7P.;A4
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真空镀膜用纯铝(未掺杂质)原材料标准规范
Standard Specification for Pure Aluminum (Unalloyed) Source Material for Vacuum Coating Applications
参考页数:2P.;A4
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用于电子薄膜的纯铝(非合金)材料标准规范
Standard Specification for Pure Aluminum (Unalloyed) Source Material for Electronic Thin Film Applications
参考页数:2P.;A4
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