| 标准号： |
NF C96-016-5-2014 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Part 16-5 : microwave integrated circuits - Oscillators |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
| 发布日期： |
2014-02-22 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2014-02-22 |
| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 正文语言： |
法语 |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-5 : Circuits intégrés hyperfréquences - oscillateurs |
| 页数： |
44P.;A4 |
| 引用标准： |
CEI 60617;CEI 60747-1:2006;CEI 60747-4:2007;CEI 60747-16-3:2002:CEI 61340-5-1;CEI/TR 61340-5-2 |
| 采用关系： |
EN 60747-16-5-2013,IDT;CEI 60747-16-5-2013,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Frequencies;Oscillations;Oscillators;Electrical properties and phenomena;Integrated circuits;Measuring;Semiconductor devices;Linearity;Block diagrams;Electrical properties;Performance testing;Power measurement;Noise (spurious signals);Measurement;Definitions;Verification |
| 内容提要（QT）： |
DISPOSITIF SEMICONDUCTEUR;MICROELECTRONIQUE HYPERFREQUENCE;CIRCUIT INTEGRE;OSCILLATEUR;DEFINITION;SCHEMA FONCTIONNEL;CARACTERISTIQUE ELECTRIQUE;CARACTERISTIQUE DE FONCTIONNEMENT;MESURAGE;BRUIT ELECTRONIQUE;PUISSANCE;OSCILLATION;FREQUENCE;LINEARITE;VERIFICATION;Mesurage de puissance;Essai de fonctionnement;Frequence;Circuit integre;Evaluation de fonctionnement;Propriete electrique;Propriete et phenomene electrique;Definition;Dispositif semi-conducteur;Linearite;Bruit (signal parasite);Schema fonctionnel;Bloc-diagramme;Verification |
| 归属： |
法国 |
